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电子分析天平(上皿式210g/0.1mg)

电子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210

YK-AEU210是引进日本新技术生产的集精确、稳定为主要特点的电子分析天平,可以完全满足实验室质量分析要求。

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电子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210
 

YK-AEU210是引进日本新技术生产的集精确、稳定为主要特点的电子分析天平,可以完全满足实验室质量分析要求。该系列天平采用CPPM工作方式,确保称量过程中良好的稳定性,并具有DATA I/O和RS-232C接口,可与打印机、计算机等外围设备连接。全自动内校电子分析天平带有内藏砝码,探测温度变化触发校准,可自动保持在任何环境下天平的灵敏度。

电子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210主要技术参数

zui大称量(g)210g

分度值(g) 0.1mg

称盘尺寸(mm) Φ80mm

电子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210是引进日本新技术生产的集精确、稳定为主要特点的电子分析天平,可以完全满足实验室质量分析要求。该系列天平采用CPPM工作方式,确保称量过程中良好的稳定性,并具有DATA I/O和RS-232C接口,可与打印机、计算机等外围设备连接。全自动内校电子分析天平带有内藏砝码,探测温度变化触发校准,可自动保持在任何环境下天平的灵敏度。


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